2021北京科技大學(xué)晶體光學(xué)研究生考試大綱 正文

617  晶體光學(xué)考試大綱
 
一、考試性質(zhì)與范圍
《晶體光學(xué)》是地質(zhì)學(xué)專業(yè)碩士研究生的入學(xué)專業(yè)基礎(chǔ)考試課程。主要考查學(xué)生對《晶體光學(xué)》基本概念和基本原理的掌握，以及是否具備運用偏光顯微鏡，在單偏光系統(tǒng)、正交偏光系統(tǒng)和錐光（聚斂偏光）系統(tǒng)下觀察和鑒定透明礦物晶體光學(xué)性質(zhì)的基本能力?？荚嚪秶ňw光學(xué)基礎(chǔ)、光率體和光性方位、偏光顯微鏡原理與調(diào)節(jié)，以及單偏光、正交偏光和錐光（聚斂偏光）系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)與測定方法。
二、考試基本要求
考試題目類型因年而異，包括名詞解釋、選擇、填空、判斷正誤、公式推導(dǎo)、作圖、簡答和分析論述等不同形式。
考生需要攜帶鉛筆、橡皮、直尺、圓規(guī)和量角器。
三、考試形式與分值
本課程由學(xué)校自行命題，全國統(tǒng)一考試。采用閉卷筆試形式，考試時間為180分鐘，滿分為150分。
四、考試內(nèi)容
1. 晶體光學(xué)基礎(chǔ)
（1）光的性質(zhì)與傳播；（2）自然光和偏光；（3）光的折射與全反射；（4）折射率與折射率儀；（5）光的雙折射；（6）一軸晶和二軸晶
2. 光率體和光性方位
（1）光率體；（2）一軸晶光率體；（3）二軸晶光率體；（4）光率體的主要參數(shù)；（5）光性方位
3. 偏光顯微鏡原理與調(diào)節(jié)
（1）偏光顯微鏡的構(gòu)造；（2）偏光顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)；（3）偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)；（4）薄片的制作
4. 單偏光系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)
（1）形態(tài)；（2）解理；（3）顏色；（4）多色性；（5）吸收性；（6）邊緣；（7）貝克線；（8）糙面；（9）突起
5. 正交偏光系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)
（1）消光現(xiàn)象；（2）消光類型與消光角；（3）干涉原理；（4）干涉色；（5）干涉色級序的確定；（6）補色原理與補色器；（7）延性；（8）雙晶
6. 錐光（聚斂偏光）系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)
（1）錐光（聚斂偏光）系統(tǒng)；（2）一軸晶的干涉圖；（3）二軸晶的干涉圖；（4）光性
7. 晶體光學(xué)應(yīng)用
（1）單偏光系統(tǒng)下的性質(zhì)測定：包括晶形、顏色或多色性、突起與糙面、解理及解理夾角等；
（2）正交偏光系統(tǒng)下的性質(zhì)測定：包括最高干涉色、最大雙折射率、消光類型及消光角、延性符號、多色性和吸收性公式、異常干涉色等；
（3）錐光（聚斂偏光）系統(tǒng)下的性質(zhì)測定：包括按干涉圖類型確定礦物的軸性、測定光性符號、估計光軸角大小等
 

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