大連理工大學導師:王春燕

發(fā)布時間:2021-11-20 編輯:考研派小莉 推薦訪問:
大連理工大學導師:王春燕

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大連理工大學導師:王春燕 正文

[導師姓名]
王春燕

[所屬院校]
大連理工大學

[基本信息]
導師姓名:王春燕
性別:女
人氣指數:708
所屬院校:大連理工大學
所屬院系:
職稱:講師(高校)
導師類型:
招生專業(yè):

[通訊方式]
電子郵件:wangcy@dlut.edu.cn

[個人簡述]
王德君,電子信息與電氣工程學部控制科學與工程學院教授,博士生導師。
吉林大學半導體化學專業(yè)本科、碩士,清華大學材料學博士,先后服務于北京大學、名古屋大學和奈良先端科學技術大學院大學,現(xiàn)大連理工大學教授,博士生導師(微電子、控制)。
研究方向:
1.傳感器與傳感網;飛行器智能電子控制及安全SensorChip,Intelligentelectronicsafetycontrol
2.半導體SiC、GaN器件科學SemiconductorSiC&GaNDevicePhysicsandTechnology;
3.半導體缺陷物理學SemiconductorDefectPhysics;
4.集成電路技術Si3DP/GSIcTechnologies
課題組重視學術交流、國際化和對外合作,近五年,指導研究生在國際頂級學術期刊發(fā)表學術論文十余篇,培養(yǎng)的研究生多次獲得博士生優(yōu)秀論文單項獎學金和國家優(yōu)秀學生獎學金,深受業(yè)界歡迎。
Prof.DejunWANGreceivedtheB.S.andM.S.degreeinsemiconductorsfromJilinUniversity,Changchun,China;andthePh.D.degreeinmaterialssciencefromTsinghuaUniversity,Beijing,China.HehasworkedinPekingUniversity,NagoyaUniversityandNaraInstituteofScienceandTechnology.
Prof.WangjoinedDalianUniversityofTechnology(DUT)in2004asaprofessorinthefieldofmicroelectronics.Hisresearchinterestsaresemiconductordefectphysics,semiconductorSiC&GaNdevicephysicsandtechnology,Si3DP/GSIctechnologies,sensorchip,andintelligentelectronicsafetycontrol.TherecentworkmainlyincludesthephysicsandtechnologyofSiO2/SiCinterfaces,metal-SiCcontacts,oxidationtechnologyofSiCsemiconductor,andthedevelopmentofGaNpowerdevices.
Publications
[10]劉冰冰等.PassivationofSiCsurface.AppliedPhysicsLetters,104:202101(2014)
[09]江..瀅等.FieldisolationforGaNMOSFETs.Semicond.Sci.&Tech.,29:055002(2014)
[08]王青鵬等.CharacterizationofGaNMOSFETs.IEEETrans.onElectronDevices,61:498(2014)
[07]朱巧智等.Electricalandphysicalpropertiesof4H-SiCMOSinterface.PhysicaB,432:89(2014)
[06]李文波等.OxidationofstepedgesonSiCsurfaces.AppliedPhysicsLetters,103:211603(2013)
[05]朱巧智等.PassivationofSiO2/SiCinterfacetraps.AppliedPhysicsLetters,103:062105(2013)
[04]黃玲琴等.Barrierofmetal/SiCcontacts.AppliedPhysicsLetters,103:033520(2013)
[03]李文波等.InsightintotheOxidationanddefectsofSiC.PhysicalReviewB,87:085320(2013)
[02]黃玲琴等.SiCOhmiccontacts.AppliedPhysicsLetters,100:263503(2012)
[01]朱巧智等.SiO2/SiCinterfacetransitionregion.AppliedPhysicsLetters,99:082102(2011)
譯著:《半導體材料與器件表征技術》,大連理工大學出版社,2008年6月
原著:《SemiconductorMaterialandDeviceCharacterization》byDieterK.Schroder

[科研工作]
。
研究方向:
1.傳感器與傳感網;飛行器智能電子控制及安全SensorChip,Intelligentelectronicsafetycontrol
2.半導體SiC、GaN器件科學SemiconductorSiC&GaNDevicePhysicsandTechnology
3.半導體缺陷物理學SemiconductorDefectPhysics
4.集成電路技術Si3DP/GSIcTechnologies
課題組重視學術交流、國際化和對外合作,近五年,指導研究生在國際頂級學術期刊發(fā)表學術論文十余篇,培養(yǎng)的研究生多次獲得博士生優(yōu)秀論文單項獎學金和國家優(yōu)秀學生獎學金,深受業(yè)界歡迎。
Prof.DejunWANGreceivedtheB.S.andM.S.degreeinsemiconductorsfromJilinUniversity,Changchun,ChinaandthePh.D.degreeinmaterialssciencefromTsinghuaUniversity,Beijing,China.HehasworkedinPekingUniversity,NagoyaUniversityandNaraInstituteofScienceandTechnology.
Prof.WangjoinedDalianUniversityofTechnology(DUT)in2004asaprofessorinthefieldofmicroelectronics.Hisresearchinterestsaresemiconductordefectphysics,semiconductorSiC&GaNdevicephysicsandtechnology,Si3DP/GSIctechnologies,sensorchip,andintelligentelectronicsafetycontrol.TherecentworkmainlyincludesthephysicsandtechnologyofSiO2/SiCinterfaces,metal-SiCcontacts,oxidationtechnologyofSiCsemiconductor,andthedevelopmentofGaNpowerdevices.
Publications
[10]劉冰冰等.PassivationofSiCsurface.AppliedPhysicsLetters,104:202101(2014)
[09]江..瀅等.FieldisolationforGaNMOSFETs.Semicond.Sci.&Tech.,29:055002(2014)
[08]王青鵬等.CharacterizationofGaNMOSFETs.IEEETrans.onElectronDevices,61:498(2014)
[07]朱巧智等.Electricalandphysicalpropertiesof4H-SiCMOSinterface.PhysicaB,432:89(2014)
[06]李文波等.OxidationofstepedgesonSiCsurfaces.AppliedPhysicsLetters,103:211603(2013)
[05]朱巧智等.PassivationofSiO2/SiCinterfacetraps.AppliedPhysicsLetters,103:062105(2013)
[04]黃玲琴等.Barrierofmetal/SiCcontacts.AppliedPhysicsLetters,103:033520(2013)
[03]李文波等.InsightintotheOxidationanddefectsofSiC.PhysicalReviewB,87:085320(2013)
[02]黃玲琴等.SiCOhmiccontacts.AppliedPhysicsLetters,100:263503(2012)
[01]朱巧智等.SiO2/SiCinterfacetransitionregion.AppliedPhysicsLetters,99:082102(2011)
譯著:《半導體材料與器件表征技術》,大連理工大學出版社,2008年6月
原著:《SemiconductorMaterialandDeviceCharacterization》byDieterK.Schroder

[教育背景]
1997.92000.7大連理工大學應用化學碩士1988.91992.7吉林化工學院化學工程學士
大連理工大學

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本文來源:http://zhangjiajieline.cn/dalianligongdaxue/daoshi_520365.html

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